Trägerplatine

Silver Atena bietet eine sechskanalige Trägerplatine zur Aufnahme von Ein- und Ausgangsmodulen (HIL/IN- und HIL/OUT-Module) in AT-HIL Testsystemen.
Sie ist für einen modularen Aufbau des Testsystems entwickelt und stellt (in Kombination mit der HIL-Backplane und einem 19" -3HE-Rack) die Basis des AT-HIL Baukastensystems von Silver Atena dar.

Die Trägerplatine bietet Platz für je sechs Ein- und sechs Ausgangsmodule. Sie bildet so ein leistungsfähiges, durch ein Echtzeitsystem steuerbares Modul für die hochgenaue Signalkonditionierung (z.B. Nachbildung von verschiedenen Sensorsignalen), Signalrückmessung und Fehlersimulation.
Die Buchsen an der Frontblende (BOB: Breakout Box) ermöglichen manuelle Sonderversuche wie Signalunterbrechung, Anschluss externer Messtechnik oder realer Komponenten.
Im Normalbetrieb sind die entsprechenden Buchsenpaare kurzgeschlossen. Der Anschluss aller Signale erfolgt über den Stecker an der Backplane.

Durch den Anschluss realer Komponenten (z.B. Sensoren oder Aktoren) ist das Umschalten zwischen simulierter und realer Peripherie des Prüflings möglich. Die Fehlersimulationseinheit (FIU, eng. Failure Injection Unit) bietet die Möglichkeit verschiedener Fehlersimulationen (Kurzschluss zwei beliebiger Signale, Leitungsbruch, Kurzschluss nach GND etc.).

Die Trägerplatine bietet die Möglichkeit, Signalwege über eine Sammelschiene in beliebiger Weise miteinander zu verschalten. So können beispielsweise Signale, noch bevor diese an den Prüfling weitergeleitet werden, sequentiell zu  einem internen hochgenauen Messgerät geroutet und dort gemessen werden. Damit sind automatisierte Sondermessungen oder Selbsttests der Testsysteme realisierbar.

  • Echtzeitsystemsteuerbarkeit
  • Hochgenaue Signalkonditionierung (mit eingebauten Modulen)
  • Umschaltmöglichkeit zu realen Komponenten und externen Lasten
  • Fehlersimulationseinheit (FIU)
  • Breakout Box (BOB) an der Frontblende
  • Hohe Flexibilität durch die modulare Architektur
  • Signalkonditionierung
  • Signalrückmessung
  • Fehlersimulation in HIL-Testsystemen

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