Hardware-in-the-loop-Systeme simulieren für Steuergeräte die elektrischen Umgebungsbedingungen für reproduzierbare automatisierte Funktions- und Hardware-Tests.
Das AT-HIL Baukastensystem (Hardware-in-the-loop) stellt die Grundlage für einen reibungslosen Aufbau funktionierender HIL-Testsysteme dar und gewährleistet eine hohe Flexibilität bei niedrigen Kosten und kurzen Bereitstellungszeiten.
Silver Atena Testsysteme sind modular aufgebaut, von den kleinsten Einheiten wie Ein- und Ausgangsmodule (HIL/IN- und HIL/OUT-Module) bis zu 19-Rack basierten Komponenten wie Echtzeitsysteme oder Signalkonditionierungsblöcke. Damit bietet Silver Atena branchenübergreifend eine optimale Lösung für die komplette Entwicklung eines komplexen HIL-Testsystems von der Analyse und Spezifikation über die Konzeption bis zum Aufbau, zur Inbetriebnahme und Wartung.
Auf Basis der HIL-Backplane mit den Trägerplatinen können die verschiedensten Module adaptiert werden und HIL-Testsysteme mit verschiedener Komplexität in kürzester Zeit geliefert werden.
- Modulare Architektur
- Hohe Flexibilität und Adaptierbarkeit für Modifikationen
- Standardschnittstellen zu unterschiedlichen Echtzeitsystemen
- Kurze Entwicklungs- und Lieferzeiten
- Kurze Durchlaufzeiten bei Interface-Änderungen
- Adaptierung an verschiedene Prüflingsderivate
- Hohe Zuverlässigkeit aufgrund des schlanken Kabelbaums
- Automatischer Selbsttest und automatische Selbstkalibrierung
- Fehlersimulation und Break-Out-Point für jede Schnittstelle des Prüflings
- Automatisierte sequenzielle Signalrückmessung durch hoch sensible Messgeräte
- Hohe Genauigkeit in Verbindung mit Langzeitstabilität
- HIL-Backplane
- Trägerplatine
- Gateway-Module
- Simulationsmodule
- Messtechnikmodule
