Bild HIL-Baukasten

SILVER ATENA
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Eigenschaften
  • Modulare Architektur
  • Hohe Flexibilität und Adaptierbarkeit für Modifikationen
  • Standardschnittstellen zu unterschiedlichen Echtzeitsystemen
  • Kurze Entwicklungs- und Lieferzeiten
  • Kurze Durchlaufzeiten bei Interface-Änderungen
  • Adaptierung an verschiedene Prüflingsderivate
  • Hohe Zuverlässigkeit aufgrund des schlanken Kabelbaums
  • Automatischer Selbsttest und automatische Selbstkalibrierung
  • Fehlersimulation und Break-Out-Point für jede Schnittstelle des Prüflings
  • Automatisierte sequenzielle Signalrückmessung durch hoch sensible Messgeräte
  • Hohe Genauigkeit in Verbindung mit Langzeitstabilität

 


Komponenten des modularen HIL-Systems

 ■ HIL-Backplane

 ■ Trägerplatine

 ■ Gateway-Module

 ■ Simulationsmodule

 ■ Messtechnikmodule

 

HIL Baukastensystem

Hardware-in-the-loop-Systeme simulieren für Steuergeräte die elektrischen Umgebungsbedingungen für reproduzierbare automatisierte Funktions- und Hardware-Tests.

 

Das AT-HIL Baukastensystem (Hardware-in-the-loop) stellt die Grundlage für einen reibungslosen Aufbau funktionierender HIL-Testsysteme dar und gewährleistet eine hohe Flexibilität bei niedrigen Kosten und kurzen Bereitstellungszeiten.

 

SILVER ATENA Testsysteme sind modular aufgebaut, von den kleinsten Einheiten wie Ein- und Ausgangsmodule (HIL/IN- und HIL/OUT-Module) bis zu 19-Rack basierten Komponenten wie Echtzeitsysteme oder Signalkonditionierungsblöcke. Damit bietet SILVER ATENA branchenübergreifend eine optimale Lösung für die komplette Entwicklung eines komplexen HIL-Testsystems von der Analyse und Spezifikation über die Konzeption bis zum Aufbau, zur Inbetriebnahme und Wartung.

 

Auf Basis der HIL-Backplane mit den Trägerplatinen können die verschiedensten Module adaptiert werden und HIL-Testsysteme mit verschiedener Komplexität in kürzester Zeit geliefert werden.